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HAD-P350UVS 紫外辐射照度仪
紫外光谱辐照计 紫外辐射照度仪 型号:HAD-P350UVS 集光谱、紫外辐照度、紫外UVA、紫外UVB、紫外UVC、波长等测量功能参数于一体,光谱分析法是数字积分方法,不受被测光源光谱分布和探测器响应带宽函数的影响,是精度高的紫外辐射照度的测量方法。采用5英寸大屏,可测量多类紫外宽窄光谱光源、适用于测量紫外全波段的光谱辐射照度及波长、高的光谱分辨率、高的测量精度。低可定制扩展到180nm,针对臭氧185nm波长的定性检测。
紫外辐射照度仪可测量参数 波长范围:200-450nm
◎紫外危害辐照度(uW/cm2) ◎紫外辐照度EUV (uW/cm2) ◎主波长 (nm) ◎紫外辐照度UVA(uW/cm2) ◎Ec自定义波段辐照度(uW/cm2) ◎质心波长 (nm) ◎紫外辐照度UVB(uW/cm2) ◎光谱功率分布 ◎辐照度 (uW/cm2) ◎紫外辐照度UVC(uW/cm2) ◎半宽度(nm) ◎峰值波长 (nm) ◎Eb蓝光辐照度 (uW/cm2) ◎积分时间(ms) ◎中心波长 (nm) 注:波段 测量范围 测量条件 UVA 1.0uW/cm2~1000mW/cm2 低压汞灯峰值波长365nm、半宽度16.7nm在测量条件下 UVB 0.1uW/cm2~100mW/cm2 低压汞灯峰值波长311nm、半宽度2.9nm在测量条件下 UVC 0.1uW/cm2~100mW/cm2 低压汞灯峰值波长254nm、半宽度2.2nm在测量条件下 备注: 实际辐照度测量范围由光源的光谱决定,光源光谱越宽,辐照度越大;光源光谱越窄,辐照度越小。 紫外辐射照度仪主要技术指标 系统可定制多国语言 分光平台 长焦交叉非对称CT分光系统 光学宽带 1.5nm(FWHM) 光谱分辨率 0.2nm 传感器 CCD,3648 dots 积分时间 10us-10s 显示屏 5'HD IPS LCD 分辨率 480×854 测量模式 单次/连续 曝光模式 自动/手动 显示模式 6项参数可选 显示模式 光谱分布曲线 输出格式 表格,图片 探头窗口 φ10mm 波长准确度 ±0.3nm 波长间隔 1nm Ad分辨率 16bits,250kSPS 语言 简体/繁体/English 文件保存 8GB SD Card 数据输出接口 SD Card/USB2.0 尺寸(L x W x H) 138×81×23mm 相关产品: HAD-2S 土壤紧实度检测仪 HAD-C1 陶瓷光度计 HAD-F5A 便携式气象仪 HAD-PGS 偏硅酸快速检测仪 HAD-GF2B 防爆粉尘采样仪 HAD-P350UVS 紫外辐射照度仪 |