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HAD-DB1 方块电阻测试仪
1.电阻率/方块电阻测试仪 型号:HAD-DB1
HAD-DB1方块电阻测试仪新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护,在宽广的量程范围内,使各种电子薄膜能得到、无损的方块电阻测量结果。 HAD-DB1由于薄膜材料种类繁多,研制过程中样品性能变化较大,而且各种薄膜的机械强度,允许承受的电压、电流均不相同,因此KDB-1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头,仪器的测试电流分7档,可由0.4μA增加到较大为1000mA,测试电压可由8V增加到80V,测试电压和测试电流均可连续调节,给薄膜、涂层的研制者提供了个摸索测试条件的宽阔空间。 方块电阻测试仪由于仪器设有恒流源开关,并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的能,充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。 HAD-DB1仪器性能 方阻测量范围:1×10-5~2×106Ω/□,较小分辨率1×10-5Ω/□; 电阻率测量范围:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,较小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m; 探针压力:25g~250g; 探针曲率半径:25μm~450μm (注:探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制); 测试电流分7档:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA; 测试电压:(1μA~10 mA档)12~80V连续可调 (100mA档) 8~36V连续可调 (1000mA档) 8~15V连续可调; 测量方式:手动或自动(配置用测试软件); 测量对象:导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种电子薄膜;各种半导体材料的电阻率。
2.三相钳形伏安波形相量仪 型号:HAD-3616
HAD-3616术规格
3.紫外辐射传感器 型号:HAD-ZW1
HAD-ZW1术参数
测量范围:0~200W/m2
温馨提示:以上产品的资料和图片都是按顺序相对应的
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