HAD/HI96705 浙江浓度测定仪_其他专用仪器仪表

电话：15010245973同微信/010-51658042/
手机：15010245973/17316029570
传真：010-57553286
邮编：100142
E-mail:1733477181@qq.com
http://www.hengaode17.com/
地址：北京市海淀区阜成路

北京恒奥德仪器仪表有限公司

您当前的位置：首页 >> 产品展示 » 其他专用仪器仪表 » HAD/HI96705 浙江浓度测定仪

HAD/HI96705 浙江浓度测定仪

1.二氧化硅（SiO2）浓度测定仪/水中二氧化硅检测仪 型号：HAD/HI96705

产品介绍
二氧化硅在溶解矿物质的天然水体中存在。但在业应用中却不希望有二氧化硅的存在，因为二氧化硅会引起结垢现象。特别是压管道中易受二氧化硅的影响。加热系统和反渗透厂也有要监测二氧化硅。

READ/TIMER function
能，可以确保反应时间的致性，避免因不同用户操作而产生反应时间的差别。   二氧化硅（SiO2）浓度测定仪/水中二氧化硅检测仪型号：HAD/HI96705
Calibration Date on Display
仪器经过校准，将自动新数据，可随时查阅校准信息，符合ISO和GLP实验室管理要求。
二氧化硅（SiO2）浓度测定仪/水中二氧化硅检测仪型号：HAD/HI96705
•人性化显示界面，操作简单，双行易读LCD显示屏
•优良防水性能，同时适用于实验室和现场使用
•具有用户校准能，选购校正组可行校准
•EPA标准，GLP管理能，自动关机节电模式

二氧化硅（SiO2）浓度测定仪-HI96705性能检查
当行测量前,需要确定仪器性能是否正常,是否需要校准,HANNA特有的CAL CHECK™性能核查能,只需选购对应的校准组,即可快捷检验仪器性能及性   二氧化硅（SiO2）浓度测定仪/水中二氧化硅检测仪型号：HAD/HI96705

订货信息:HI96705 二氧化硅测量范围：0.00 to 2.00 mg/L SiO2测定，HI93705-01二氧化硅试剂、HI731333玻璃比色皿×2、HI731318玻璃比色皿清洗布、中英文使用手册、携带箱

二氧化硅（SiO2）浓度测定仪-HI96705产品参数

型号	HI 96705
量程	0.00 to 2.00 mg/L SiO₂
解析度	0.1 mg/L
度	读数的±3% ±0.03 mg/L
光学系统	钨灯光源，窄波段滤波器@ 610nm，硅光电池检光器
校准能	CAL CHECK单点自动校准能
供电方式	1 x 9V电池，可连续使用200小时；待机10分钟后自动关机节电能
使用环境	0 to 50°C(32 to 122°F)；RH max 95%无冷凝
尺寸重量	192 x 102 x 67 mm；290 g
测量方法	参照ASTM D859 标准杂多蓝方法，二氧化硅和试剂反应呈淡蓝色

2.电子天平/天平型号：ZL-YP30002

具有校正、计数能，范围去皮，小巧、便于携带，操作简单、快捷，可选RS-232C输出接口。

型号 Model	名称 Description	术参数 Technical Data	秤盘尺寸 Pan size
ZL-YP1002	电子天平	100g/10mg	Φ130mm
ZL-YP2002	电子天平	200g/10mg	Φ130mm
ZL-YP3002	电子天平	300g/10mg	Φ130mm
ZL-YP5002	电子天平	500g/10mg	Φ130mm
ZL-YP6002	电子天平	600g/10mg	Φ130mm
ZL-YP10002	电子天平	1000g/10mg	Φ130mm
ZL-YP20002	电子天平	2000g/10mg	Φ130mm
ZL-YP30002	电子天平	3000g/10mg	Φ130mm
ZL-YP40002	电子天平	4000g/10mg	Φ130mm
ZL-YP50002	电子天平	5000g/10mg	Φ130mm

3.罐内涂膜整性测定仪/整性检测仪型号：ZQ-DER-4

用途：ZQ-DER-4 罐内涂膜整性测定仪用于检测罐内涂膜整性（内涂膜致密性，电流值）。罐内涂膜不整，内容物会腐蚀金属，影响产品的质量和贮存。ZQ-DER-4 罐内涂膜整性测定仪是制罐行业评定罐质量的标准。配上罐盖固定装置和真空设备还能测量“罐盖”内涂膜整性。
二、原理：在装有电解液的罐子内外加上电压，测量电流值，如果内涂膜不整（内涂膜不致密或者破损），电流值会很大。
三、术参数：测量电压 6.3V, 测量范围0-500mA，分度0.01mA，度+/- 2%，数据接口RS232
四、配置：ZQ-DER-4 罐内涂膜整性测定仪包括：主机显示控制器、罐身夹具、6.3 mA标准测试电阻。如果要测量“罐盖”内涂膜整性，需要选配：罐盖固定装置；真空设备。

ZQ-DER-4 罐内涂膜整性测定仪比之前的型号能快地测出金属暴露，改良的电子设计，测量灵敏、、，分度0.01mA。改良的罐体夹具，具有抗腐蚀特性，使用寿命长。薄膜按键加耐用和具有佳的抗腐蚀性。“反转电压” 能使电压性可键倒置，会令金属外露的位置产生气泡，便于观察确定缺陷位（金属外露的位置）。

订货时请说明样品罐的zui大直径，标准配置的支架适合zui大尺寸110mm, (404罐)