DP-CST-500系列电偶腐蚀/电化学噪声测试仪由品质CMOS和BiFET®集成电路组成，用于实时监测电偶腐蚀或者电化学噪声信号，仪器可以通过基于Windows的ENtools软件行设置（由串口控制），也可以直接通过面板触摸键盘操作。通过ENtools软件用户可计算电偶电流密度，电偶腐蚀速率、噪声电阻Rn，以及点蚀数等。ENtools软件还具有较强的绘图能，支持图形矢量方式，可以直接拷贝到Word文档中，便于文档建立和资料保存。

 电偶腐蚀/电化学噪声测试仪/电偶腐蚀测试仪   型号:DP-CST-500
仪器作原理

DP-CST-500系列采用业单片机控制芯片，并采用斩波稳零放大器Max7650作为前置放大电路，其温漂小于1mV/℃，时漂小于10mV/Month。采用基于零阻电流测量原理来监测电化学噪声和电偶腐蚀电流。内置有双通道24bitAD转换器，zui采样速率为1000Hz，电流测量具有自动量程能，内置低通滤波器，可以有效消除频噪声入测量单元；通讯分采用RS232/485电路，电路采用光隔设计，避免地回路对测量结果的影响，保障仪器在业环境中的正常使用。  电偶腐蚀/电化学噪声测试仪/电偶腐蚀测试仪   型号:DP-CST-500

测量钠离子浓度（显示Na+μ g/L或pNa值）和温度。
提供二种自动校正能：二点校正法或二次标准添加法。
量程范围宽。
mV测量能，可实现ORP测量

测量范围
钠离子浓度： 0～999μg/L 0～200mg/L
pNa值： 2.0～7.0
温度： 0～50℃
测量误差：
pNa值： ±0.03 pNa
温度：±1.0℃

输入阻抗： ≥ 10^12Ω
温度补偿范围： 0～50℃
仪器稳定性： ± 0.01pNa/3h
外形尺寸： 220mm×110mm×320mm

可测量pH 、mV 和温度值
自动识别预置的校正溶液的pH值。
自动行温度补偿。
外形尺寸：320mm×220mm×120mm
环境温度：0～40℃

相对湿度：≤90﹪

mV：－450～450

温度：0～100℃

pH：±0.02 pH

mv：±1 mV

温度：±1.0℃

温度补偿误差实验室PH计：±0.01 pH

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