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NJS-DYM3-1 山西 原空盒气压表
、用途 三、术性能和规范： 为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法”设计制。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。
KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：
1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。
2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。
3、配备专用软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。
4、配置两种波长的红外光源：
a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。
5、测量范围宽广
测试仪可直接测量：
a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。
b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
寿命可测范围 0.25μS—10ms 3、数显恒温油浴锅/恒温油浴锅/数显恒温油浴/数显恒温油浴箱 型号：HAHH-S ：简介
数显恒温油浴锅选用口不锈钢板和机械加艺制，具有耐温，耐腐蚀的特点。控温装置采用稳定性运算放大器和双积分A/D转换术：远红外加热术设计而成，产品热平衡时间短，
温度波动性小，均匀性好，LED显示、直观。广泛用于蒸馏、干燥、浓缩以及温渍化学药品或生物制品
二：性能
1.电源 220V50Hz
2.额定率 1500W
3.控温范围 RT-300℃ 4.油温液动 ±1℃ 5.油温均匀性 ±1℃ 6.作室容积 280×280×300㎜ 7．可根据客户要求定制
三: 用法
使用时须加油于锅内,再接通电源,数字温控表显示实际测量温度,调节旋钮开关,同时观察读数至所需设定温度值,当设定温度值超过油温时,加热示灯亮,表明加热器已开始作,当油温达到您所需温度时,恒温示灯亮,加热示灯熄.应注意锅内油不能使用电热管露出油面,以免烧坏电热管,成漏电现象
温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的 相关产品： HAD-177029 拍打式无菌均质器 H18383 毫瓦功率计 HAD-P1000 自动金相磨抛机 HAD-1104 盐雾浓度检测仪 HAD-3058 煤中砷检测仪 HAD-T2B 半导体管特性图示仪 |
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