1.拉拔测试仪/拉拔检测仪 型号：DYNA
Dyna 拉拔测试仪以种非常容易使用的方法测量不同基材上的涂层附着力。 其主要用途是测量混凝土结构涂层的附着力以和混凝土的抗拉强度。
通过Dyna 测试仪，可以在结构上的何点行测试，而无需在混凝土上安装测试设备。
拉拔测试仪/拉拔检测仪 型号：DYNA
Dyna对于建筑结构的损伤诊断和已竣修复程的检验不可少。
主要特点
综合数字压力表（公制和英制单位）
便携，几乎胜何测试场合。
轻巧、
由于附有平滑运转的曲柄传动装置，无需外电源
均匀加载
另有电力传动设备可供选择
用途
测量应用涂层的附着力，如塑料或混凝土涂料、灰泥涂料、石膏涂料、沥青涂料和金属上的涂料。
测量混凝土和其他基材的表面强度
适合用于评估混凝土翻修中的抗拉强度
保修
电子示件的保修期统为 2 年多可延保 3 年时间
拉拔测试仪/拉拔检测仪 型号：DYNA
符合下列标准
ISO 4624
EN 1015-12
EN 1348
BS 1881 Part 207
ASTM C 1583
ASTM D 4541
ACI 503-30
DIN 1048 Part 2
拉拔测试仪/拉拔检测仪 型号：DYNA
产品变异
Dyna Z系列（用于测量附着力和抗拉强度），附有综合数字压力表
Dyna ZE 系列拉脱法测试仪（用于测量附着力和抗拉强度），附有压力传感器和DYNAMETER电子显示设备，能够便捷地传送数据到电脑或打印机，以作步的分析
另有EDm电力传动设备可供选择
Dyna Estrich 是经过专门设计的测试仪，它用无损的检测方法，测量地板涂层附着力。
术数据
Dyna Z 和Dyna ZE
Dyna Z Dyna ZE
Z16 Z6 Z16 Z6
拉力 16kN
(3’600 lbf) 6 kN
(1’350 lbf) 16 kN
(3’600 lbf) 6 kN
(1’350 lbf)
分辨率 0.01 N/mm²
误差 < 2% < 1%
允许冲程 3.5 mm 4.0 mm 3.5 mm 4.0 mm
重量 3.5 kg (7 lbs 11 oz)
电池 压力表用CR 2430 型，操作时间可达150小时 见下文显示单元术数据
操作温度 0 ° to +60 °C (32 °F to 140 °F)
储存温度 -10 ° to 60 °C (14 °F to 140 °F)
总重量 6 kg (13 lbs) 7.8 kg (17 lbs)
Dyna ZE – Dynameter显示设备
储存 非易失性内存，可储存1,000测试值
显示器 128 × 128像素液晶显示器，带背光
数据输出 RS-232接口或USB适配器
软件 集成软件，用于传送测试值到打印机或电脑, WIGAonline Software
电池 6节 LR6 (AA), 1.5 V （60小时操作）
重量 1.8 kg (4 lbs)
Dyna Estrich
显示器 以N/mm2 计，基于 50毫米直径的测试圆盘
抗拉力 zui大值为
4400 N (990 lbf)
抗拉强度 2.2 N/mm2 (320 psi)
误差 < 3 %
抗拉冲程 20 mm (0.79 in.)
总重量 2.8 kg (6 lbs)
2.ROHS及无卤素检测仪 ROHS及无卤素测试仪 型号：BZ-x-5600
产品详情：
BZ-X-5600是种体现X射线荧光分析术新展的能量色散X射线荧光光谱仪。可行无卤素（氯Cl、溴Br、碘I）测量它采用低率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各件的性能，了整台仪器的分辨率及通用适应性。何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机术规格：
激发源：本机采用低率 X 射线管（Ag靶），zui电压可达50KV，zui大电流1mA
压电源：zui大50W，50KV，1mA
探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV）
多道分析器：2048道
软件：基于WINDOWS的强大作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括： KL线标记，谱图和光标寻峰等。客户可行二次开发，自行开发意多个分析方法。
6电源：交流220V 50Hz
7体积：520mm x 600mm x 270mm
8重量：约 42kg (主机)
整机术性能：
测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量
可测量含量范围，从ppm至
测量速度快，通常为几十秒到几分钟
多元素同时定性定量
蜂位漂移：八小时小于1%
口探测器的性能标：
探测器类型：电制冷Si-PIN
探测面积：2.4x2.8mm（6mm2）
硅活化区厚度：500um
探测器分辨率： 对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半宽为149Ev
探测器窗口：铍窗，12.5um厚
口压电源规格：
电压和电流从零至满量程连续可调，zui大50KV，1mA
电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 %
线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01%
电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%
稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%
温度系数：温度变化度，电压变化不超过0.01%
详细参数：
测量范围：Pb，Hg，Cr，Cd，Br，Cl
测量度：低于100ppm时度15ppm，大于100ppm时，度15%
分析元素：Pb，Hg，Cr，Cd，Br，Cl
检出限：Pb：3.2 mg/kg (ppm)
Hg：3.2 mg/kg (ppm)
Cr：4.1 mg/kg (ppm)
Cd：5.8 mg/kg (ppm)
Br：3.1 mg/kg (ppm)
Cl：2.4 mg/kg (ppm)
测量时间：30秒——120秒可选
X射线源：X光管
作环境温度：10℃——45℃
作环境湿度：20%——80%
压器：50Kv
操作系统：windows XP
3.贵金属检测仪 贵金属测试仪 型号：BZ-X-3680
产品详情：
| X-3680 贵金属检测仪 |
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| 产品型号：BZ-x-3680 |
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| 产品详情：
BZ-X-3680是种体现X射线荧光分析术新展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各件的性能，了整台仪器的分辨率及通用适应性。何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。
仪器检测能力强，分辨率，适用于各行业对不同元素行无损检测。在不同作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测度从PPM别到千分之别。
强势能
1. 基本参数法对从铝（13号元素）至铀（92号元素）定性分析测量。
2．包裹样品检测辨别系统。
3．样品室清成像定位系统，方便微小样品定位测量。
4．电制冷与内双向循环冷却恒温系统相结合，维持内作环境稳定。
5. 内动力学风道设计，快速排出多余热量。
6．双峰位快速自动校准。
7．双箱体结构，抗干扰能力强且方便硬件升。
8．仪器作方法意开发。
9. 定量分析：包括经验系数法，理论a系数法和基本参数法。
10.定性分析：包括Kl谱线标记法，谱图法，光标自动寻峰等。
11.测试报表根据客户要求设计。
12.温度系数：温度变化1度，电压变化不超过0.01%
13.稳定性：经过半个小时预热后，每8小时变化不超过0.05%
14.准直器：使用特殊的滤波片自动换，提能区的峰背比。
15.彩色液晶显示屏
16.研发的多能数字集成放大器，提降噪比。
整机术规格
1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm
2. 可测试样品大小：关仓测量：220mm×200mm×150mm
开仓测量：大
3. 仪器重量：50公斤
4．作环境温度：0——35℃
5. 作环境相对湿度：≤80%
6. 元素分析范围：铝（Al）——铀（U）
7. 含量分析范围：1PPM——99.999%
8．测量时间:10——180秒可调
9. 激发源：低率X射线管
10．压电源：美Spellman原装口压电源
11．探测器：美Amptek原装口电制冷Si-Pin半导体探测器
12. 仪器分辨率：55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV
13．多道分析器：2048道
14．软件：基于WINDOWS的强大作软件
15. 客户可行二次开发，自行开发意多个分析方法
16．作电源：交流 220V 50Hz
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温馨提示：以上发布的产品资料和图片都是按顺序相对应的
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