本实验仪采用类似光学分光计的设计思想。成套仪器由三厘米微波信号源、固态微波振荡器、衰减器、隔离器、发射喇叭、接收喇叭、检波器、检波信号数显器、可旋转载物平台和支架，以及其他实验用附件（反射板、分束板、单缝、双缝、晶体模型等）等组成。
可开设的实验
1、了解与学习微波产生的基本原理以及传播和接收等基本特性；
2、行微波干涉、衍射、偏振等实验；
3、微波的迈克耳逊干涉实验；
4、观测模拟晶体的微波布拉格衍射现象。
主要术特点
1、固态微波振荡器与衰减器、隔离器、发射喇叭体化设计，微波率适当，可衰减范围宽，对人体无害；
2、液晶数显检波装置，灵敏度，读数方便，与微波接收喇叭、检波器体化，结构紧凑、性能稳定； 
3、测量结果的对称性好，无明显的固定角度偏差；
4、提供多种附件和实验方案选择，可以行综合性、设计性和研究性实验。
主要术参数
1、微波频率：9.4GHz波段，带宽：约200MHz；
2、微波率：约20mW， 衰减幅度：0～30dB；
3、三位半液晶数显检波仪，测量角度偏差≤3o；
4、消耗率：满负荷时不大于25W； 
5、连续作时间：大于6h； 
6、电源电压：～220V，50Hz； 
7、仪器重量：约20Kg。

2.手摇绞车  型号：HAD-I

3.方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪  型号：HAD-XX-2

HAD-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的仪器.可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻
特点:
1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要分，测量稳定。
2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰
3、采用单个电池供电，带电池欠压示
4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易
6、带探头与被测物质接触良好示(LED)
7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作其简便。 
术标
测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)
扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)
测量不确定度≤5%
探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500 MΩ
手握式探笔长度:约150mm或90mm;电缆联线长度:约1.5M

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