概述
HAD-2258C型多能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；电压电流自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类能，zui大分类10类。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台，也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量）
电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□ 
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直    径： HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
测量方位:  轴向、径向均可

量程划分及误差等

作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（）

净   重：≤1.5～2.0kg

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