电脑膜层测厚仪是新术的结晶。它采用微机术，度，数字显示，示值稳定，耗低，操作方便，无校正旋钮，单探头量程测量，体积小重量轻。具有存贮，读出，统计，低电压示、上下限报警能。其性能达到产品水平。

●适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他何超声波的良导体的厚度。
 ●可配备多种不同频率，不同晶片尺寸的双晶探头使用。
 ●具有探头零点校准、两点校准能，可对系统误差行自动修正。
 ●已知厚度可以反测声速，以提测量度。
 ●具有耦合状态提示能。
 ●有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用。
 ●有剩余电量示能，可实时显示电池剩余电量。
 ●具有自动休眠、自动关机等节电能。
 ●带有RS232接口，可以方便、快捷地与PC行数据交换。可以连接到微型打印机（厂家型号）打印测量报告。
 ●可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富能。
 ●小巧、便携、性、适用于恶劣的操作环境、搞振动、冲击和电磁干拢。

术参数