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气体检测仪HPT-XD100
特点: HHY8-BD-86A型半导体电阻率测试仪是我厂推出的新的普及型半导体电阻率测试仪器,本仪器是根据四探针原理,适合半导体器材厂,材料厂用于测量半导体材料(片状、棒状)的体电阻率,方块电阻(簿层电阻),也可以用作测量金属薄层电阻,经过对用户、半导体厂测试的调查,根据美ASTM标准的规定,在电路和探头方面作了重大的修改和术上的许多突破,它适合于半导体器材厂艺检测方面对中值、阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要,成为普及型的电阻率测试仪,具有测量度,稳定性好,输入阻抗,使用方便、价格低廉等特点。 仪器主要术标: 1. 测量范围:电阻率10-3—103Ω-cm,分辩率为 10-4Ω-cm ,可扩展到105Ω-cm 方块电阻10-2—104Ω/□,分辩率为10-3Ω/□,可扩展到106Ω/□ 薄层金属电阻10-4—105Ω,分辩率为10-4Ω 2.可测半导体材料尺寸:直径Φ15—Φ125mm; 长度:150mm(可扩展500mm) 3.测量方式:轴向、断面均可 4.数字电压表:(1)量程:20mV(分辩率:10μV)、200mV、2V (2)测量误差:±0.3%读数±1字 (3)输入阻抗:大于108Ω (4)显示3 1/2 位红色发光二管(LED)数字显示 0---1999具有性、过载、小数点、单位自动显示 5.恒流源:由交流供电,具有良好的防泄漏隔离能 (1) 直流电流:0—100mA连续可调 (2) 量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA (3) 分辩率:10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA (4) 电流误差:±0.3%读数±2字 6.电性能模拟考核误差:<±0.3%符合ASTM标 7.测试探头:(1)探针机械游移率:± 0.3% 符合ASTM 标 8.电源:交流220V±10% 50HZ或60HZ 率消耗< 30W 9.电气箱外形尺寸:119×440×320mm 3.半导体粉末电阻率测试仪/粉末电阻率测试仪 型号:HHY8-FZ-2006 本仪器是为了适应当前迅速发展中的分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关标准设计的。 仪器的电流输出为 10 µA - 100 mA ,电阻率测试范围为 10 -2 - 10 5 Ω cm ,直接采用数字显示。仪器的性和 稳定性大大增强,方便于用户, 而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、分子纳米粉末和固态金属行电阻、电阻率多用途的测量。 适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米)的电阻率测量, 也可以测量固体半导体材料,特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制. 电阻率值直接数字显示由具有加压系统, 度测量的测试台和仪器组成. 仪器主要包括电气箱和测试架两分,电气测试分由直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器, 加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。本仪器具有测量度,稳定性好,重复性好,使用方便等特点, 并有自校能。 本仪器采用通用的电流-电压降法即四端子测量法,可以消除电与粉末接触产生的接触电阻误差,还可以消除联接系统所带来的误差, 克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病,真实、地测量出粉末样品的电阻率,因此重复性好。 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、等院校、科研门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的种重要具。 术参数;
北京恒奥德仪器仪表有限公司
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