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半导体激光率计BGS-6318
1.率半导体激光峰值率计/半导体激光率计 型号：BGS-6318
该产品广泛应用于直接测量大口径速半导体激光的峰值率。
探测器的接收口径为Φ70mm, 抗激光损伤阈值
显示器可直接数字显示出测量的峰值率值
通过显示器上的波形输出接口连接示波器可以观察脉冲波形
仪器操作简单、体积小巧、环境适应性强
光谱响应范围 400nm ~ 1100nm
校准波长 904nm±10nm
光敏面直径 Φ70mm
光敏面抗激光损伤阈值(峰值率) ≥50W/cm2
峰值率测量范围 1 ~ 200W
zui小分辨率 0.1W
波形响应时间 ≤10ns
被测激光重复频率范围 ≥10kHz
被测激光脉宽范围 ≥50ns
不确定度 5%
电源 AC 220V±10%, 50Hz±5%
zui大耗 8W
外型尺寸(L×W×H) 探测器 240mm×180mm×120mm
显示器 245mm×115mm×255mm
重量 ≤7.0 kg
术标可以根据用户需求订制
2.焦度计/电脑焦度计/电脑查片仪 型号：HADLM8A 电脑查片仪/焦度计术参数 测量范围 增加单位 镜度 0～±25D 柱镜度 0～±10D 轴位 0°～180°(1°单位) 棱镜 0～10△ ＡＤＤ 0～10D 步长 0.01/0.125/0.25D 棱镜度 0.01/0.125/0.25△ 可选项配置 打印 PD UV LM-8(A) × × × LM-8(B) × ○ × LM-8(C) ○ ○ × LM-8(D) ○ ○ ○ 测量模式 柱镜 －，＋，± 棱镜 X-Y,P-B,mm,不显示 读数分辨率 0.01D 多光镜片 双光，三光，渐多焦点 隐形镜片 硬型，软型 阿贝数 20,30,40,50,60 显示 5.7〃LCD液晶屏，中英文可选 适应镜片 10mm-90mm(直径) 电源 AC220V 50Hz zui大率 55W 重量 8kg 外形尺寸 宽210mm×厚280mm×400mm 自动读数，可以测量各种眼镜片，液晶电脑屏幕 具备PD测量(用于B型)，具备打印和PD测量(用于C型)，具备打印、PD测量和UV测量(用于D型)。其中UV紫外线透过率的测量结果是在屏幕上按百分比直观地表示出来，操作简便 问：D型其在镜片上画点(Marking Dot)的笔是不是有三支的?就是主机的显示屏上的那个圆圈,般的要画线就得三支，不知道我们的是不是三支? 答：是 各型检测误差正负0.3% 3.低温试验箱 型号：TST-GDW-100 适用于测试和确定电、电子及其他产品及材料行温、 低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
结构特点 : 或双复叠制冷(风冷或水冷)。 主要术参数和性能标：
北京恒奥德仪器仪表有限公司
温馨提示：以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的
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