1. 膜片压力表 型号； HAD-YPF-150
仪表由测量系列（包括法兰接头、波纹膜片）、传动示机构（包括连杆、齿轮传动机构、针和度盘）和外壳（包括表壳和罩圈）等组成。仪表外壳为防溅结构，具有较好的密封性，能保护内机构不受污秽。
仪表的作用原理是基于弹性元件（测量系统上的膜片）变形。在被测介质的压力作用下，迫使膜片产生相应的弹性变形——位移，借助连杆组经传动机构的传动并予放大，由固定于齿轮上的针将被测值在度盘上示出来。
术参数：
·度等：2.5
·使用环境温度：-40~+70°C；相对湿度不大于90%
·温度影响：使用温度偏离20±5°C时，其温度附加误差不大于0.04%/°C
·作位置：垂直安装
·外壳防护等：IP64
型号标示：
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压力表
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表壳外径
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类型
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YPF
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铸铝或不锈钢
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100：?100mm
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150：?150mm
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A：膜片压力表
M20×1.5外螺纹接口
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B：不锈钢膜片压力表
M20×1.5外螺纹接口
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B-F：法兰不锈钢膜片压力表
25-4.0HGJ突面法兰
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YPF
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100
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B
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标度范围、外形尺寸及重量
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型 号
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标度范围
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承压尺寸D1
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表壳外径D
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重量Kg
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YPF-100A
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0~0.06 0~0.1 0~0.16 0~0.25 0~0.4
0~0.6 0~1 0~1.6 0~2.5 -0.1~0
-0.1~0.06 -0.1~0.15 -0.1~0.3 -0.1~0.5
-0.1~0.9 -0.1~1.5 -0.1~2.4MPa
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?85
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100
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1.6
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YPF-100B
YPF-100B-F
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?115
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YPF-150A
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?85
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150
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1.8
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YPF-150B
YPF-150B-F
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?115
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YPF-100B
YPF-100B-F
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0~1.6 0~2.5 0~4 0~6 0~10 0~16
0~25 0~40 -1.6~0 -2.5~0 -4~0 -10~0
-0.8~0.8 -1.2~1.2 - 2~2 -3~3 -5~5
-8~8 -12~12 -20~20KPa
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?160
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100
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2.9
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YPF-150B
YPF-150B-F
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?160
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150
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3.2
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型 号
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名 称
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导压系统
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表壳材料
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膜片
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法兰接头
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密封垫圈
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YPF-100A
YPF-150A
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膜片压力表
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Cr15Ni7Mo
（PH15-7Mo）
316（<=40KPa）
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1Cr18Ni9T
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丁腈橡胶
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铸铝
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YPF-100B
YPF-150B
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不锈钢膜片压力表
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聚四氟乙烯
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1Cr18Ni9T
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YPF-100B-F
YPF-150B-F
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法兰不锈钢膜片压力表
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2.氯离子浓度计/氯离子检测仪/氯离子分析仪 型号：SX1-MP523-05
| ● 符合规范的GLP要求，具有自动校准、自动温度补偿、数据储存、RS232输出、时钟显示、能设置和自诊断信息等智能化能。 |
| ● 有三种不同的测量模式：稳定显示模式；定时测量模式；连续测量模式。 |
| ● 氯电量程: 1～4.3 pCl (10-1 ～5-5 mol/L)。 |
| ● 配置电：氯离子电，参比电，温度电和三复合pH电。 |
| ●配置溶液：氯离子标准溶液，参比电溶液和pH校正溶液。 |
| ● 仪器储存10种常用的离子模式可供选择，也可自行设定其它离子（需选购相应的离子电）。 |
| ● 可切换四种离子浓度单位：pX、mol/L、mg/L和ppm. |
| ● 自动识别13种pH标准缓冲溶液，有四个系列的标准缓冲溶液可以选择：欧美系列、NIST系列、系列和自定义溶液。 |
| ● 可设置纯水pH测量模式和加氨纯水pH测量模式。 |
| ● 有EH氧化还原电位测量模式，直接显示相对于标准氢电电位的ORP值。 |
| ● 仪器带有的产品序列号。 |
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● 符合IP54防尘防溅等，仪表插口有硅胶帽密封保护
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pH
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测量范围
分辨率
度
输入电流
输入阻抗
稳定性
温度补偿范围
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（-1.999 ~ 19.999）pH
0.1/0.01/0.001 pH
电计：±0.002 pH，配套：±0.01 pH
≤1×10-12 A
≥3×1012 Ω
±0.002 pH/3h
（0 ~ 100）℃（自动或手动）
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mV
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测量范围(mV/ORP/EH)
分辨率
度
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-1999.9mV ~ 0 ~ 1999.9mV
0.1mV
±0.03% FS
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氯离子
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测量范围
显示单位
度
输入电流
输入阻抗
稳定性
温度补偿范围
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1 ~ 4.3 pCl
pCl、mol/L、mg/L、ppm
± 0.04 pCl
≤2×10-12 A
≥1×1012 Ω
±0.01 pF/3h
（0 ~ 50）℃（自动或手动）
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温度
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测量范围
分辨率
度
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-10℃~ 110℃
0.1℃
5~ 60℃范围：±0.4℃ 其余范围：±0.8℃
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其他术参数
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数据储存
储存内容
电源
通讯接口
尺寸和重量
质量和安认证
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900组
测量值编号、测量值、温度值、ATC或MTC状态、测量日期、测量时间
DC9V/300mA
RS232
160 × 190 × 70mm/880g
ISO9001:2008, CE和CMC
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作条件
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环境温度
环境湿度
IP等
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5 ~ 35 ℃（0.01） 15 ~ 30 ℃（0.001）
≤75%
IP54 防尘防溅
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3./半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/电阻率测试仪型号：JH-WSP-6
JH-WSP-6型半导体电阻率测试仪是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是生产厂家硅料分选测试的理想具。
1、 主要术标:
电源：220V交流
可测晶片直径（zui大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：电流量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。
数字电压表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV
电阻率显示：三位半数字显示：小数点、性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米
输入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
测量度：±0.1。
zui大电阻测量误差（按JJG508-87行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。
重掺检测误差（JJG508-87行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%
测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65%
2、操作程序：
1、连好电源，打开后面板电源开关，电源示灯亮，表示待机毕。
2、校准设备：厚度小于3.98mm取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪，测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的标准样块校准电阻率测试仪
3、测试：用四探针接触硅材料，以探针压下三分之二为准，待仪器显示数字稳定即可，
4校验：在测试过程中要求2小时用标准样块校准次设备，
3、 针组件;维护及注意事项:
1、般情况下,除了信号传输线的断裂引起的故障外, 针的维护主要包括针头的换和针头的清理清洁作
2、维护后的安装及维护过程中,须注意安装过程中的排线位置,按绿红黄黑（1234）位置排列。
温馨提示：以上发布的产品资料和图片都是按顺序相对应的
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