
1. 数字意波形函数信号发生器/ 型号:HAD-9010D
基本能
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量程
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上限频率
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10 MHz
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双通道输出特性
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通道A :幅度(至开路)2mVρρ~20Vρρ,(至50 Ω)1mVρρ~10Vρρ。输出阻抗 50Ω,调节细度 5%,正弦平坦度 5%,直流偏置 -~ 峰值。
通道B :机内波形,幅度(至开路)200mVρρ~20Vρρ,输出阻抗:600 Ω,频率范围:0.1Hz~20kHz。
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频率特性
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正弦波:1μHz~仪器上限频率,方波:1μHz~5MHz,其它波形:1μHz~1MHz,zui分辨率:0.1μHz或8位数字,稳定度:50ρρm (0℃~40℃), 短期稳定度:1ρρm (开机热稳定后), 度:0.4Hz (>100Hz),0.1μHz (<100mHz)。
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频率计
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测频范围:1Hz~100MHz, 输入信号:>100mV。
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函数波形
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基本波形:正弦,方波,三角波,升斜坡,降斜坡,随机噪声, SIN(X)/X, 升数, 降数,脉冲波,可扩展36种波形。
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正弦波,谐波失真
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50 Ω负载, 1Vρρ输出:< 20kHz -60dBc, 20kHz~1MHz -50dBc, 1MHz~10MHz -40dBc, 10MHz~20MHz -30dBc。
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贮存深度s
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32 K,4组意波形。
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频率参数调制方式
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线性和对数扫频、FSK、ASK、PSK、FM,内、外调频,调幅,调相等十多种调制方式。扫频范围 1Hz~仪器上限频率,zui小步 1Hz,扫频速率 10ms~10s 。 FSK、 PSK、 ASK、 BURST:脉宽、间隔 10μs~100s,载波频率 1Hz~仪器上限频率,相位 -360~360度,触发脉冲数量 1 ~ 65535。
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触发方式
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扫频、FSK、PSK、ASK和BURST脉冲,可实现手动单次触发和外电平或边沿触发。
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信号特性
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方波:(50Ω负载 1Vρρ输出),升降时间 <15ns,过冲 <5%,不对称性1%+20ns。脉冲波,三角波、斜波:线性(1kHz) <0.1%。
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数字脉冲
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输出端口:ASK时,同步输出口,电平TTL,脉宽tw :10μs< tw <100s,间隔ts :10μs< ts <100s。
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内调幅
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调制/载波:机内波形(方波除外),载波频率为 1μHz~仪器上限频率,调制频率 100mHz~20kHz, 调制频率稳定度 50ρρm,调幅深度 0%~。
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外调幅
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输入电阻 1kΩ,调幅深度受控于本机输出幅度和外调制信号幅度。
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内调频
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调制/载波为机内波形,载波频率及频率偏移范围为 1Hz~仪器上限频率,调制频率 100mHz~10kHz,调制频率稳定度 50ρρm。
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内调相
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载波波形有正弦和方波,载波频率为1Hz~仪器上限频率,调制波形为机内波形,调制频率 100mHz~10kHz,调制频率稳定度50ρρm,zui大相位偏移 360度。
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接口
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标准配置:RS-232,选配:USB和GPIB。
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占空比
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0.1%~99.9% (<10kHz),1%~99% (<100kHz),3%~97% (<1MHz)。
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设计特点
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数字化设计,所有参数软件校准,人性化菜单操作方式。
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般特征
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LCD尺寸
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62×62 mm
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机身颜色
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象牙白+灰色
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机身重量
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约2.5kg
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机身尺寸
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320(深)×240(宽)x100()mm
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标准配件
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双Q9连接线,电源线
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标准包装
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彩箱,中文说明书
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标准包装数量
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6台
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标准包装尺寸
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660(长)×410(宽)×600()mm
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标准包装毛重
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约18kg
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2.PN类别鉴定仪/导电类型鉴别仪/PN型号鉴别仪 型号:JG-ST-11
概述
JG-ST-11型PN类别鉴定仪是运用整流法原理鉴定半导体导电类型的仪器,同时兼备测试重掺的能。
本仪器由主机和探头等件组成。导电类型P或N由数码管显示,是否重掺由发光管和蜂鸣器提示,探头由四种形式,可根据需要选用。探针采用即插式,方便换。
本仪器关键器件采用专用集成电路,并采用贴片艺,仪器具有鉴定范围宽、灵敏度、稳定性好、使用方便等特点。适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校等对半导体材料的PN类型鉴定及重掺判别的场合。
术参数
1. PN 鉴定范围:ρ=0.01~1000 Ω-cm
重掺判别界限: ρ=0.01~0.2 Ω-cm 可调 (初始设定为0.1Ω-cm)
2. 可测半导体材料尺寸:
PN 鉴定 :可接触面 Smin= 3mm*5mm
重掺判别:可接触面 Smin= 3mm*5mm (三针探头或夹子)
Smin= 3mm*3mm (二针探头或夹子)
Smin= 2mm*2mm (单针探头)
3. 探头参数:
⑴探针间距: 1.8mm
⑵探头类型: 三针式、二针式、单针式、夹子式
5) 作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
6) 外形尺寸:W×H×L=28cm×13cm×23cm
净 重:≤2kg
3.多能数字式四探针测试仪/方块电阻检测仪/四探针电阻率仪型号: JG-ST2258A
概述
JG-ST2258A型多能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪特赠设测试结果分类能,zui大分类10类
仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成,故定位、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。
基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻: 1.0×10-3 ~ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103 Ω
电 阻 率: 10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103 Ω-cm
方块电阻: 10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω/□ 分辨率1.0×10-3 ~ 0.1×103 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸
直 径: 测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
长(或)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等
量程 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
误差 ±0.5%FSB±1LSB(在各量程范围内),超量程或欠量程可测量,但误差将随超欠程度而变大
4) 作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5) 外形尺寸:W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
净 重:≤1kg
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