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半导体晶片甩干机 HAD-T150

半导体晶片甩干机 HAD-T150

 1.半导体晶片甩干机 型号:HAD-T150
能:
用于半导体晶片速旋转干燥。
机理:
速旋转使半导体晶片充分与空气接触,快速干燥。
参数:
转速可设置范围:300-8000/分
时间可设置范围:2*999秒
基片适用范围:10mm-150mm.
结构:半导体晶片卡装。








2.建材难燃性试验炉  型号:SY4-LZ-2

本测试仪满足标GB/T8625-2005中所规定的术标和要求,适用于建筑材料难燃性的测定。


设备性能标
作电压:AC220V±10% 50Hz 3.5KVA;
气    源:业用甲烷,纯度>95%;
环境温度:19~30℃;
炉壁温度:室温~100℃±1℃;
炉内温度:室温~300℃±2℃;
气温度:0~50±0.5℃;
压力差:0~30Pa±1Pa;
气流量:0~15m3/min±1m3/min;
流量计范围:0~45L/min±0.2L/;
恒温:(23±2)℃  
恒流:(10+1)m3/min
设备外形尺寸:长×宽×
竖炉(1.2×1.2×3.93 )m
恒温、恒流(1.8 ×1.6×0.7)
控制器(0.8×1.6×0.58)m;
设备重量:1500 Kg。
*作条件
环境温度:室温~40℃
甲烷气体纯度:>90.5%
作电压:220V±10% 50Hz 3.5KVA
*设备组成
炉体
试样架
恒温恒流气源
控制系统
微机
*软件能
、程序控制
预热
试验
热负荷试验
二、实时显示
(预热、试验或热负荷试验过程)
时间()
炉壁温度
炉内温度
试件
炉内压力差
气量
气温度
三、数据处理
回放:试验过程中各参数数据
曲线表示:试验过程中各参数曲线图
打印:试验过程中各参数数据











3.通信电缆故障测试仪/TDR测试仪/电缆故障检测仪/通信电缆故障检测仪  型号:ZYY1-TDR-2018

时域反射法(TDR):可测断线、混线、缘不良等各种类型的故障。
自动测试快速。
人机界面友好,操作方便、直观。
干电池/充电电池供电,换方便;电池欠压自动关机,无操作自动关机。
手持式、质轻便携。

术标:

测试范围:0-4km
分辨率:0-1kmzui1m,2kmzui2m,4-8kmzui8m。
脉冲幅度:30V。
脉冲宽度:80ns-5μs,自动调节。
测试盲区:1m。
波速度调节范围:100-300m/μs。
增益调节范围:0-80db。
显示方式:128×64点阵LCD
供电电源:6节AA型(5号)干电池或镍氢电池。
体积:225mm×105mm×50m







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