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防雷元件测试仪/防雷元件检测仪

防雷元件测试仪/防雷元件检测仪


1.防雷元件测试仪/防雷元件检测仪 型号:HL-FC-2G

    适用于氧化锌避雷器(压敏电阻),金属陶瓷二、三电放电管、真空避lei等过压防护元件直流参数的测量。 也可作稳压、恒流电源, 使用于其它方面。
1.作原理:
    在测量压敏电阻时,DC/DC变换器在定的频脉冲的驱动下,将12v直流电压升变为测试压敏电阻时所需要的直流压。在测试放电管时,斜率控制电路控制DC/DC变换器,使其输出的电压值在20~1700v内以每秒100v的上升率上升到放电管放电。
2.使用范围:
    适用于氧化锌避雷器(压敏电阻),金属陶瓷二、三电放电管、真空避lei等过压防护元件直流参数的测量。
3.产品别称:
    压敏电阻测试仪、放电管测试仪、防雷器测试仪。
●适用于氧化锌避雷器(压敏电阻),金属陶瓷二、三电放电管、真空避lei等过压防护元件直流参数的测量。 也可作稳压、恒流电源, 使用于其它方面。
●具有压短路保护、过流保护、压预置、量程调节等能,压自泄放时间小于0.5秒。
●具有自检能。
●测量数据由三位半LCD数字显示,度、性好。
●测量时,可以预设定量程,并在测量过程中对超量程测试发出声响提示, 适用于器件分组和检验判别。
●选择连续测量,可以对批量试品行不间断测试。
●面板能简单,易于操作。
●重量轻,便于携带。
1 压敏电阻测量

术 标

测 量 范 围

作 误 差

测 试 条 件

起始动作电压U1mA

0~1700V

≤±2%±1d

1mA±5μA

漏电流I0.75U1mA

0~199.9μA

≤±2μA±1d

0.75U1mA≤±2%±1d

2 放电管测量

术 标

测 量 范 围

作 误 差

测试条件

直流击穿电压Vsdc

20~1700V

≤±2%±1d

电压上升速率100V/S±10%

3 其它标
● 缘电阻:6MΩ(500V)
● 耐压:AC 1.5kV 50HZ 1min
● 作温度和湿度:0~+40℃ ≤85%RH
● 储存温度和湿度:-10℃~+50℃ ≤90%RH
● 电源: AC 220V 50Hz
         DC 12V 0. (芯线+)
● 耗:8W
● 外形尺寸:208mm×190mm×78mm
● 重量:≤1kg 

 








2.壁挂式温湿度变送器/壁挂式温湿度变送仪   型号:XA-WAS-B

、产品介绍

 
    XA-WAS-B/WAS-BX系列壁挂式温湿度变送器采用AM2302电容式数字温湿度传感器作为湿度测量件、DS18B20作为温度敏感元件,配以稳定信号处理电路,将环境中的温度与湿度转换成与之相对应的标准信号,具有体积小、重量轻、测量度、响应速度快、稳定性好等特点,可广泛应用于器象、防、科研、邮电、烟草、化、环保、档案文物保存、疗卫生、宾馆、粮食等各种需要对空器温湿度行测量与控制的场合。
    选用质量集成式数字温湿度传感器AM2302,了变送器优良的稳定性、低延滞性、以及强抗化学污染能力,这种变送器优的可重复性。集成湿度传感器还可免校准快速换,而且成本较低。 
典型应用:
*药化 通讯机房 HVAC暖通空调
*环境监测 电信基站 图书、档案馆
*洁净厂房 智能楼宇 超市、生产车间
*业自动化
特 点:
*优的性能价格比,稳定性好
*耐湿,可用于各种恶劣环境
*量程温度补偿,低温湿度测量
*数字化校准,温湿度测量范围宽,性
*易维护,温湿度传感器探头可免校准快速换 

术性能:

 

供电电源 24V DC
相对湿度 0~RH
湿度传感器 湿敏电容
湿度信号输出 0~5VDC 0~10VDC 4~20mA RS485
作范围 0..RH
±2%RH(25℃) <±5%RH(-20~80℃)
温度传感器 DS18B20

温度信号输出
(温度测量可选范围):
0~50℃
-20~80℃
-40~60℃

0~5VDC
0~10VDC
4~20mA
MOBUS RS-485通讯信号

±0.2℃
损耗电流 直流供电 典型值15mA
电气连接端子 螺纹接头 zui大值1.5mm2
外壳/防护等 ABS
温度范围 作温度-40~80℃
存储温度-40~80℃

显示屏参数:采用标准显示屏
   显示屏规格:45mm*35mm
   显示屏作温度范围:-30~75摄氏度
   视角范围:水平视角120度,垂直视角120度 










3.薄膜测试仪/能薄膜特性测试仪  型号:HZ-DHFC-1
仪器由四探针测试仪和薄膜电导率测量仪两分组成。具有测量度、灵敏度、稳定性好、测量范围宽、结构紧凑、使用方便等特点。仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能的测试。
    四探针测试仪由主机、测试架等分组成。可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)、能材料暗电导和光电导及温度的变化的特性,还可以对金属导体的低、中值电阻行测量。测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成,故定位、游移率小、寿命长。
    薄膜电导率测量仪由样品室、温控系统、真空系统、阻测量系统等分组成。
◆ 测量范围:电阻测量范围:1×106~1×1017Ω;
     电阻率:0.001~200Ωcm;
     电导率:0.005~1000s/cm;
◆ 可测晶片直径: 200mmX200mm;
◆ 探针:碳化钨或速钢;探针间距:1±0.01mm;
◆ 针间缘电阻:≥1000MΩ; 
机械游移率:≤0.3%;
◆ 本底真空度:≤10Pa,气压可控范围:10~400Pa;
◆ 衬底加热 温度:室温~200℃。







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