两探针电阻率测试仪_其他专用仪器仪表

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两探针电阻率测试仪

1.两探针电阻率测试仪/二探针电阻率测试仪/两探针仪（测锗）型号：KDK-KDY-2

KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我标准GB/T1551-1995及美材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭（如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等）的电阻率，测样长度与截面zui大尺寸之比应不小于3：1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，测量结果为横截面的平均电阻率，两探针法的测量度般优于四探针法。

整套仪器有如下特点

1、配有双数字表：块数字表在测量显示电压的同时，另块数字表（以分之几的度）适时监测过程中的电流变化，使操作方便，测量。

数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV 输入阻抗：1000ΜΩ

基本误差±（0.04-0.05%读数+0.01%满度）

2、可测电阻率范围：0.005—50000Ω·cm。

3、测量电流由度稳定（分之几度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响。

电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。调节范围从0.001~100mA

4、仪器采用触点电阻低（＜5mΩ）、使用寿命长的转换开头及继电器（＞10次），在缘电阻、电流容量方面留有大的安系数，提了测试仪的性和使用寿命。

5、可加配HQ-710E微处理机及打印机，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率zui大值、zui小值、zui大百分变化率、平均百分变化率等内容。

6、可加配电脑，实现数据采集、自动换向测量、求平均值，计算、存储并打印电阻率zui大值、zui小值、zui大百分变化率、平均百分变化率等内容。

2.微电脑可塑性测定仪/数显可塑性仪型号：HAD-KS-B

、概述
该仪器适用于测量陶瓷泥料可塑性的种仪器，广泛应用于陶瓷、电瓷、建材、磨料等行业。该仪器具有两种测量方法：
（1）可塑性标法:即通过研究试样在受力过程中应力与应变之间的关系来确定泥料的可塑性，与其它方法为科学和为，且人为的因素影响zui小。适用于圆柱体试样，定义可塑度R来量度泥料的可塑性。
（2）可塑性数法:测定泥料对形状变化的抵抗力。适用于形试样。
二、主要规格及术参数
1、试样尺寸：Ф28×38圆柱、Ф≤45形试样
2、压力量程：0～200N；压力度≤1％（FS）
3、位移量程：0～25㎜；位移度≤1％（FS）
4、压板速率：30㎜/min
5、过程微电脑控制、数据处理
6、电源：220V±5％；50HZ±5％
7、作环境：温度5℃～40℃；湿度≤85％
三、主要结构及作原理
1、整体结构：
仪器由机械、电器两分组合成，机械分主要是减速装置。电器分包括：微电脑测试仪、压力传感器、位移传感器等。
2、作原理：
电机转动，通过减速装置带动试样支承座上下移动，试样接触到固定在上面的压力传感器时，产生压力信号，支承座上下移动时带动位移传感器时铁芯移动，产生位移信号，此两信号通过微电脑测定仪测量，显示并行数据处理，可获得我们所需要的数据！

3.分子筛磨耗率测定仪/分子筛磨耗率检测仪/颗粒磨耗测试仪型号：HAD-ZQJ

本仪器适用于3A分子筛等颗粒磨耗的测定。
主要术参数：
1、计数范围：0—999转；
2、额定转速：25±r/min;
3、磨样筒尺寸：Ф36×300mm；
4、磨样筒材质：不锈钢。

使用说明书：

、概述

该仪器符合GB/T10505.2-89 3A分子筛磨耗率测定方法

适用于3A分子筛磨耗率的测定，也适用于其它型号、规格分子筛样品磨耗率的测定。

二、 术参数

1、计数范围：0—999转，

2、额定转速：25±1r/min,

3、磨样筒尺寸（内径×长度）：Φ36×300mm，

4、磨样筒材质：不锈钢，磨样筒内壁粗糙度Ra3.2；

三、操作原理

将定量经焙烧后的样品在磨样筒内按规定的条件运转，使样品在筒内磨擦碰撞，测定样品粉化百分率，表示其磨耗率。

四、操作步骤

测定步骤

1、用四分法将样品缩分至两份，每份约等于磨耗试验用量：25±2g.

2、分别称取在550℃已焙烧恒重的两只瓷坩埚的质量（至0.001g），此质量为M0.

3、将两份样品分别倒入孔径0.85mm标准分样筛，除去磨前碎粉，分别转移到两只已称量的瓷坩埚中。

4、将瓷坩埚和坩埚盖（不盖在坩埚上），放入箱式电炉内，在550℃焙烧2H。

5、取出瓷坩埚，放入真空干燥器内，立即盖上坩埚盖和真空干燥器盖，开启真空泵，在空气压强小于1.0×10³ Pa条件下，关闭真空泵，冷却样品至室温。

6、缓慢旋转真空干燥器盖上活塞，使大气慢慢通入干燥器内，打开真空干燥器，取出瓷坩埚，立即称量（至0.001g），此质量为M1。

7、将样品立即分别装入两只磨样筒内，拧紧压盖，再将磨样筒对称地装在磨耗仪上，开动磨耗仪，磨样筒开始运转，直至转动1000次。

8、取下磨样筒，将样品用0.6mm标准分样筛过筛后倒回原瓷坩埚中。

9、将瓷坩埚和坩埚盖（不盖在坩埚上）放入箱式电炉内，在在550℃焙烧1H，然后按同样方法操作，称得瓷坩埚加磨后过筛，筛上物焙烧后样品质量（至0.001g），此质量为M2。

五、计算与结果

1、磨耗率（X）以质量百分数表示，按下式计算：

M2-M1

X=-------- ×100

M1-M0

式中：M0—瓷坩埚（连盖）质量，g；

M1—瓷坩埚（连盖）加磨前过筛、焙烧后样品质量，g；

M2--瓷坩埚（连盖）加磨后过筛、焙烧后样品质量，g；

2、取平行测定的算术平均值作为结果。

六、允许偏差

当磨耗率小于或等于0.5%时，平行测定结果的差值不大于0.1%；

当磨耗率大于0.5%时，平行测定结果的差值不大于0.15%

温馨提示：以上发布的产品资料和图片都是按顺序相对应的