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两探针电阻率测试仪
1.两探针电阻率测试仪/二探针电阻率测试仪/两探针仪 (测锗) 型号:KDK-KDY-2 KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪(以下简称两探针仪)是按照我标准GB/T1551-1995及美材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型,方型或矩形单晶锭(如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等)的电阻率,测样长度与截面zui大尺寸之比应不小于3:1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端出,远离电压测量探针,因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应(如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等),对测量的影响较小,测量结果为横截面的平均电阻率,两探针法的测量度般优于四探针法。 整套仪器有如下特点
1、配有双数字表:块数字表在测量显示电压的同时,另块数字表(以分之几的度)适时监测过程中的电流变化,使操作方便,测量。
数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV 输入阻抗:1000ΜΩ
基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)
2、可测电阻率范围:0.005—50000Ω·cm。
3、测量电流由度稳定(分之几度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响。
电流量程分五档:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。调节范围从0.001~100mA
4、仪器采用触点电阻低(<5mΩ)、使用寿命长的转换开头及继电器(>10次),在缘电阻、电流容量方面留有大的安系数,提了测试仪的性和使用寿命。
5、可加配HQ-710E微处理机及打印机,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率zui大值、zui小值、zui大百分变化率、平均百分变化率等内容。
6、可加配电脑,实现数据采集、自动换向测量、求平均值,计算、存储并打印电阻率zui大值、zui小值、zui大百分变化率、平均百分变化率等内容。
2.温湿度记录仪 型号:HAD-U12-011 测量温度范围 -20~70℃°C 3.自动电磁释放开关/电磁释放开关 型号:HAD-ZDK-001 防火门释放开关(参考型号:HAD-ZDK-001)重约1Kg,外型尺寸150*150*50,相似于86系列开关面板,通常安装在墙上或自制的支架上,距地度1.5米左右安装,做法跟普通墙壁开关相似,只是专用接线盒须预埋结实,因为防火门释放开关要承受门扇的撞击及外拔力。 HAD-ZDK-001B 100*100尺寸 温馨提示:以上发布的产品资料和图片都是按顺序相对应的 相关产品: HAD-177029 拍打式无菌均质器 H18383 毫瓦功率计 HAD-P1000 自动金相磨抛机 HAD-1104 盐雾浓度检测仪 HAD-3058 煤中砷检测仪 HAD-T2B 半导体管特性图示仪 |