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侧面光检测仪 侧面光测试仪QXH-CM-3
侧面光检测仪 侧面光测试仪用途 QXH-CM-3型侧面光检测仪是依据中华人民共和标准GB11614-2009《浮法玻璃》要求设计,用于检测浮法玻璃外观缺陷的辅助设备,与外观检测仪配合使用,可以测试浮法玻璃各种缺陷的数量和尺寸,是浮法玻璃生产企业备的质检设备。 二、侧面光检测仪 侧面光测试仪原理 QXH-CM-3型侧面光检测仪在封闭的灯箱内装有碘钨灯,灯箱上有可以开启的狭缝,玻璃横插入狭缝向前运行,光线从玻璃断面射入玻璃,由于玻璃上各种缺陷对光线的漫射,缺陷在玻璃板面上呈现亮点,记下亮点的位置,用外观检测仪和读数显微镜检测缺陷的种类和大小。 三、侧面光检测仪 侧面光测试仪术参数 1、光源:碘钨灯 率:1000W 2、狭缝开启的zui大宽度:20㎜ 3、狭缝与光源间距:100㎜ 4、设备尺寸:1330㎜×750㎜×900㎜ 5、电源:AC.220V 2.相序表 型号:ST1-VC850 产品特点: 概述:便携式低频磁力探伤仪是无损检测方法中磁力探伤的新换代产品,它突破了目前磁粉探伤只能探测金属表面缺陷的局限,弥补了薄钢板超声探伤困难的缺点。探伤深度可达3-6mm,灵敏度,对于表面有油漆、锈皮等缺陷的件,不需要做处理,探伤方便,探伤后不需退磁。探伤速度快、体积小、重量轻。 作原理:直流电产生的磁场通常能透入到零件的内去,而交流电产生的磁场都集中在零件的表面上,低频磁力探伤仪综合了直流和交流的优点,电流的频率与探伤深度成反比。采用低频电流基本接近于直流的探伤深度,而低频电流是种脉动电流,它能使磁粉行列轻微地振动,有助于磁粉的排列并形成磁痕,同时低频电流又具有交流电的特点,探伤后不用退磁。 北京恒奥德仪器仪表有限公司 温馨提示:以上产品资料和图片都是按照顺序相对应的
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