X荧光光谱仪性能特点_公司新闻_北京恒奥德仪器仪表公司

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X荧光光谱仪性能特点

发布时间：2015-08-18

X荧光光谱仪性能特点:
1.专业贵金属检测、镀层厚度检测。
2.智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
3.任意多个可选择的分析和识别模型。
4.相互的基体效应校正模型。
5.多变量非线性回收程序。