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低阻型四探针检测仪可测量半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等
发布时间:2016-02-19 低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪 型号;KDK-KDY-1
仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
注:如果测金属粉末电阻率必把样品压成块或片才能测 |